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  • ECM-100/100-100J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
    ECM-100/100-100J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
    J-RAS代理離子遷移試驗(yàn)裝置 CAF測試,J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)ECM-100是可以單獨(dú)試驗(yàn)的ALL-IN-ONE檢測系統(tǒng),并且重要的試驗(yàn)數(shù)據(jù)被保存到CF存儲卡。作為系統(tǒng)構(gòu)成我們準(zhǔn)備了40CH/100CH型,可以根據(jù)您的預(yù)算、設(shè)置空間來進(jìn)行選擇。
    更新時(shí)間:2025-02-24    訪問量:1983    型號:ECM-100/100-100
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  • ECM-100日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
    ECM-100日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
    日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經(jīng)過長時(shí)間的測試(1 ~1000 小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。
    更新時(shí)間:2025-02-24    訪問量:3201    型號:ECM-100
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  • HVUα-2000J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
    HVUα-2000J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
    J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經(jīng)過長時(shí)間的測試(1 ~1000 小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。
    更新時(shí)間:2025-02-23    訪問量:3175    型號:HVUα-2000
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  • HVUα-1000V日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
    HVUα-1000V日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
    日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF) CAF試驗(yàn)/CAF測試是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經(jīng)過長時(shí)間的測試(1 ~1000 小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。
    更新時(shí)間:2025-02-24    訪問量:33909    型號:HVUα-1000V
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  • HVUα_3000V3000V離子遷移試驗(yàn)裝置
    HVUα_3000V3000V離子遷移試驗(yàn)裝置
    3000V離子遷移試驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經(jīng)過長時(shí)間的測試(1 ~1000 小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況。在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。$n適用規(guī)格 : JPCA- - ET01-
    更新時(shí)間:2025-02-23    訪問量:1689    型號:HVUα_3000V
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  • HVUα-3000VJ-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
    HVUα-3000VJ-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)
    J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF),在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。
    更新時(shí)間:2025-02-24    訪問量:1781    型號:HVUα-3000V
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